DEI离散输入评估板：航空电子与高压信号采集的可靠测试平台

发布时间：2025-08-21 08:41:53 浏览：2965

　　在航空电子、工业自动化及高可靠性系统中，离散信号(如开关状态、传感器信号)的准确采集与数字化处理至关重要。为满足这一需求，Device Engineering Incorporated (DEI)推出了DEI128x系列离散输入评估板，专门用于测试和验证其高性能离散输入集成电路(IC)。该评估板兼容多种DEI IC型号，支持高压环境下的信号采集、抗干扰测试及灵活配置，是工程师开发高可靠性系统的理想工具。

　　产品目的

　　用途：测试和评估DEI公司多种离散输入接口芯片(Discrete Input ICs)。

　　兼容性：新IC设计尽可能保持引脚兼容(如DEI1282与DEI1284)。

　　支持评估的芯片列表

型号	功能描述
DEI1026A	6通道，检测OPEN/GND，符合ABD0100标准。
DEI1054	6通道，检测28V/OPEN。
DEI1066	8通道，GND/OPEN检测，SPI输出，符合ABD0100。
DEI1067	8通道，GND/OPEN检测，SPI输出，符合ARINC 735A和ABD0100。
DEI1160	8通道，可编程检测GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口。
DEI1166	8通道，GND/OPEN检测，并行输出，5V-18V供电。
DEI1167	8通道，GND/OPEN检测，并行输出，固定12V供电。
DEI1184	8通道，可编程检测，符合ABD0100H高压保护标准。
DEI1188	8通道，GND/OPEN检测，SPI接口，符合ABD0100H阈值和迟滞要求。
DEI1198	8通道，GND/OPEN检测，并行三态总线输出，高防雷击瞬态抗扰度（需外接电阻/TVS）。
DEI1282/1284	8通道，可配置为GND/OPEN或28V/OPEN，SPI接口，内置自检（BIT）。1284需外接3kΩ电阻和TVS以实现Level 4/5防雷击保护。